探测器阵列在MLC校准及质量保证中的应用

符贵山 戴建荣

中国医学科学院肿瘤医院

背景和目的：MLC已经在放射治疗中被广泛使用，MLC叶片的定位准确性成为决定放疗效果的重要因素之一。基于MLC的IMRT技术对MLC的性能及其稳定性又提出了越来越高的要求。因此，MLC的校准及其质量保证工作成为临床物理师工作的一个重要部份。本文的目的是探讨利用探测器阵列进行MLC叶片位置校准及其质量保证的方法。

材料和方法： MapCHECK™ Model 1175（Sun Nuclear, Melbourne, FL）是由445个敏感面积为0.8x0.8mm²的N型半导体分布在22x22cm²的平面上组成的阵列，表面建成厚度为1.35cm(等效2cm)。其半导体控测器对于MLC叶片的位置误差有很高的灵敏度（±2mm以内时约为15% mm^-1）。对于支持剂量学校准方式的MLC（如Elekta MLC）， MapCHECK™的测量结果可直接用于叶片位置校准。对于其它MLC，可将测量的剂量误差转换为位置误差后再用于叶片位置的校准。结合MapCHECK™上半导体探测器的位置分布特点，我们设计了特定的子野序列模式用于MLC叶片定位精度的质量保证。

结果：对于Elekta加速器的MLC，MapCHECK™的测量结果被直接用于MLC校准，临床患者IMRT验证计划及MLC质量保证程序的对比测量证明了此方法的有效性。如果厂方对其MLC有特定的校准方法， MapCHECK™可用于测量实际叶片误差用作校准工作的辅助验收手段或再次校准的指导信息。每次校准完成后用MapCHECK™测量质量保证序列的结果作为MLC日常QA的参考基准。

结论：半导体探测器阵列具有灵敏度高、有效面积小、操作简单、结果可实时显示等优点，将其用于MLC叶片定位精度的校准可以直观、快速地达到IMRT可接受的精度。结合阵列特点设计的QA程序可以极大地简化MLC的日常QA工作。